Atomik X-Işını Spektrometri

 X-ışını
spektrometresi diğer optik
spektroskopiler gibi elektromanyetik ışının
emisyon, absorbsiyon, saçılma, floresans ve
kırınımının ölçümüne dayanır.
 X-ışını floresans ve X-ışını absorbsiyon
yöntemleri atom numarası sodyumdan büyük
bütün elementlerin kalitatif ve kantitatif
tayini için kullanılır. Özel donanımlarla atom
numarası 5-10 arasında olanlar da
belirlenebilir.
 X-ışınları
1e-5 Å ile 100 Å arasını kapsar. Ancak
klasik X-ışını spektroskopisi 0,1-25 Å arasındaki
bölgeyi kullanır.
1
Å=0,1 nm=1e-10 m
 Bir
metal hedefin yüksek enerjili elektron
demeti ile bombardımanı
 Bir maddenin X-ışınlarına maruz bırakılarak
onun da X-ışını yaymasının sağlanması
 Radyoaktif kaynaklar
 Sinkrotron radyoaktif kaynaktan
 X-ışını
emisyonu
 X-ışını absorbsiyonu
 X-ışını floresansı (XRF)
 X-ışınları kırınımı (XRD)
 Her
çeşit numunede, sıvı, katı ve toz farkı
olmadan elemental analiz yapmak için
kullanılan en iyi analitik tekniklerden
birisidir.
 basit ve hızlı numune hazırlığıyla Beriyumdan
(Be) Uranyuma (U) kadar olan element
konsantrasyonlarını ppm seviyesinin altında
yüksek kesinlik ve doğruluk oranıyla
vermektedir.
 EDXRF
(Enerji Dağılımı XRF): Analiz edilen
örnekten elde edilen X ışınlarının enerjisini
hesaplayarak elementleri tayin ederken
gelen ışınları da sayarak element
miktarlarının belirlenmesini sağlarlar.
 WDXRF: Örnekten elde edilen X ışınlarını
önce özel kristallerde yansıttıktan sonra
yansıma açılarını tespit ederek elementleri
ve ışınları sayarak da miktarlarını belirler.